BIST (built-in self test) – 내장 자체시험
BIST란 주 논리 회로의 동작이 적절한지를 시험하기 위해 이를 위한 부가적 논리 회로를 함께 설계하는 기술을 가리킨다. 자체 시험 회로를 내장하면 소요 면적이 커지는 등의 단점이 생기지만, 시험에 따른 복잡도가 크게 줄어들고 모듈별로 가장 적합한 시험이 가능하며 비싼 외부 시험 장치를 쓰지 않고서도 빠른 시간 내에 시험을 완료할 수 있는 등의 장점이 있다.
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BIST란 주 논리 회로의 동작이 적절한지를 시험하기 위해 이를 위한 부가적 논리 회로를 함께 설계하는 기술을 가리킨다. 자체 시험 회로를 내장하면 소요 면적이 커지는 등의 단점이 생기지만, 시험에 따른 복잡도가 크게 줄어들고 모듈별로 가장 적합한 시험이 가능하며 비싼 외부 시험 장치를 쓰지 않고서도 빠른 시간 내에 시험을 완료할 수 있는 등의 장점이 있다.
| 학생정원 | 재학생수 | 학생모집정지인원 | 재학생충원율 | 대학평균 |
|---|---|---|---|---|
| 5012 | 3901 | 0 | 77.8 | 111.3 |
| 정원내 모집인원 | 정원내 입학자 | 정원내 신입생 충원율 | 대학평균 |
|---|---|---|---|
| 1261 | 1246 | 98.8 | 98.8 |
| 학생현황(학생정원) | 교원접정정원(학생정원) | 전임교원 | 전임교원확보율(학생정원기준) | 대학평균 |
|---|---|---|---|---|
| 5568 | 271 | 175 | 64.58 | 84.6 |
| 전임교원/전임교원 | 한국연구재단등재지(후보포함) [지표아이디:57]SCI/SCOPUS학술지 [지표아이디:58] | 전임교원1인당논문실적(한국연구재단등재지[후보포함]) [지표아이디:57]전임교원1인당논문실적(SCI급/SCOPUS학술지) [지표아이디:58] | 대학평균 |
|---|---|---|---|
| 5012 | 3901 | 77.8 | 111.3 |
| 재적학생 | 중도탈락학생 | 중도탈락 학생률 | 대학평균 |
|---|---|---|---|
| 4150 | 131 | 3.2 | 3.9 |
출처 : 공공데이터포탈